【技術(shù)】關(guān)于更新標(biāo)準(zhǔn)后的無線IC新測(cè)試要求

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人氣：-發(fā)表時(shí)間：2015-03-21 14:31【大中小】

IC新測(cè)試要求

IC測(cè)試1G以上的輻射需要使用測(cè)試臺(tái)高為1.5M，而FCC的要求仍然保持0.8M臺(tái)高。

目前即使FCC和IC同時(shí)申請(qǐng)，也要增加1G以上輻射的測(cè)試。因IC RSS-GEN ISSUE 4 NOV 2014 版的實(shí)施以及IC 的要求。

IC需符合ANSI C63.10:2013 和 ANSI C63.4:2009的要求。其中：Tabletop equipment Radiated emission 測(cè)試按 ANSI C63.10:2013 的要求。

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